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    Analyse Structurale Et Chimique Des Matériaux Disponible

    Résumé

    diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique

    Auteurs

    Jean-Pierre Eberhart

    Spécialité

    Chimie

    Localisation

    Bibliothèque Centrale - rez de chaussée (Étudiant)
    Bibliothèque Centrale - 1er étage (Enseignant)

    Détails
    ISBN 13 9782040187972
    ISBN 10 2040187979
    Date Publication 1989
    Nombres Pages 614